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M+M Shanghai 2019: 专利测量方法,用于低温裸金属的光学温度检测

 

 

 

 

专利测量方法,用于低温裸金属的光学温度检测

 

由于低热辐射,在<200℃的温度下发亮金属的光学温度测量对于红外温度计来说是困难的测量任务。市售的低温高温计不能提供可靠的测量值,因为物体辐射很大程度上受到环境条件的影响。

 

到目前为止,特殊的交变光高温计用于此测量任务。然而,这些装置需要在硫化铅传感器前面的电机驱动的遮光盘用于信号评估。这限制了设备的使用寿命,并允许在最高环境温度为50°C下运行。另外,测量方法不适用于快速移动的物体。

 

基于目前维护和无磨损直射光技术已开发用于检测光学温度测量KELLER红外线温度解作为创新的领导者之一的最小红外信号的一种新颖的测量方法。本发明的核心是结合新型光电传感器和极低空间信号处理的高速透镜。功能强大的处理器可计算线性化和环境温度补偿的数学算法,以最小的噪声提供高分辨率输出。即使在以很短的测量时间显着最坏的情况下,较低的温度(75℃以上)和测量对象的低发射率特性提供的专利信号处理稳定的读数。

 

所有3种设备系列均可使用新技术;作为紧凑红外线温度计CellaTemp PK 25,与可调焦光学器件和瞄准装置CellaTemp PA 28和作为便携式高温计CellaPort PT 128的测量时间以毫秒为单位快速移动的测量仪器,例如在线圈的涂布系统或简称为感应加热过程应用,是理想精度高温计。

 

与我们的中国销售和服务合作伙伴北京汇德信科技有限公司一起,我们将在2019年的金属和冶金展厅E4展位 -  E461 / 5展位亲自向您展示产品。

 

 

 

 

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